二手 SEMICS Opus III #9251172 待售
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SEMICS Opus III是为晶圆级测试而设计的prober。它为用户提供了具有不同模具尺寸的高速、高精度和可靠的探测解决方桉。Opus III是一种全自动设备。它配备了像探针卡这样的特殊的编子，精确接触晶圆的粘合垫。探针卡由一种特殊合金制成，防止晶片因接触而损坏。探针卡可以轻松地移位,以便与模具的RF和逻辑板连接。SEMICS Opus III的一个特点是具有高速扫描时间。扫描时间可调，允许用户根据需要定制探测速度。Opus III还可以制造晶片的测试模式，以千兆字节/秒为单位。SEMICS Opus III还可以检测扰动、故障以及识别电路中的潜在故障。Opus III的用户界面也是人性化、直观的。它有一个触摸屏液晶显示屏，为用户提供快速和方便地访问其功能和设置。SEMICS Opus III还附带了允许用户自定义自己的测试过程并根据特定测试结果进行更改的软件。Opus III是市场上领先的探针之一。它为需要快速、准确测试产品的制造商提供了可靠、高质量的探测解决方桉。SEMICS Opus III的快速扫描时间确保了测试能够高效快速地完成，而不会出现测试结果不准确或错误的风险。此外,用户界面和可自定义设置确保制造商能够轻松配置测试过程并在必要时进行更改。
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