二手 SEMICS Opus III #9251173 待售
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SEMICS Opus III是为半导体晶圆测试和探测而设计的高性能prober。它具有模块化设计，允许集成各种组件，如视觉模块、可靠性模块等。该探测仪非常适合探测测试结构和进行电气测试，以便进行有效的测试和可靠的数据收集。OpusIII prober由测量头和控制单元两大部分组成。测量头由一个自动化的3维prober臂、一个晶圆旋转平台和一个X-Y电动级组成，以及一个用于固定晶圆的真空系统。这些组件允许对小型设备进行高精度测量。控制单元包括综合性能测试和操作模块。此模块控制prober的操作并存储从晶片获取的数据。Prober具有多种特性，如高精度性能、测量的重复性、高稳定性和快速探测周期。它旨在支持一系列晶圆尺寸和厚度,以及各种探测技术,如涡流、电阻、电容、电压、电流和时域。它还兼容各种封装类型和大小，如TSOP、QFH、PGA和针脚栅格阵列。SEMICS Opus III提供了许多有用的功能。其自动分级校准系统确保精确一致的晶圆放置和测量，而其多向运动控制系统则允许用户快速更改设置和修改参数。此外,嵌入式继电器模块有助于支持不同的电压要求,并提供多通道探测.总体而言，Opus III是一种用于半导体晶圆测试和探测的强大而可靠的探测器。它设计速度快、效率高,采用模块化设计,并具备多种高性能功能。它可以准确快速地测量各种晶片类型和测试结构，同时为高效的测试和分析提供可靠的数据收集。
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