二手 SEMICS Opus III #9254913 待售

SEMICS Opus III是专门为半导体晶圆探测而设计的先进、高度精确、自动化的prober。它的特点包括一个健壮、高速的探测算法，允许精确和快速的测量，一个先进的计量套件，以确保结果的准确性，自动化的数据分析功能，以及直观的图形用户界面，以最大限度地提高易用性。集成晶圆处理系统设计为支持标准尺寸和类型的半导体晶圆以及包括3英寸、5英寸和SMD基板在内的特殊晶圆。根据测试几何形状的不同,每个晶片最多可探测四个位点,并提供多种探测附件。该设计还包括一个刚性框架结构，用于晶圆卡盘和螺旋桨头的精确对准，以及主动减振系统。Opus III结合了一套先进的计量套件，其中包括确保准确高效数据采集的全面测量系统，以及用于快速图像处理和数据分析的集成数字图像查看器。它的数据分析功能还允许不同地点之间所有测量结果的相关性。Prober直观的图形用户界面简化了设置和操作，方便了测试参数的自定义。它还允许用户监控测试进度，快速确认测量结果。嵌入式程序允许保存测试配置设置和探测模式，还为用户提供连续的屏幕指导。SEMICS Opus III是按照最高质量标准设计制造的，非常适合苛刻的生产环境。其高吞吐量、高精度以及广泛的特性使其成为生产和测试半导体器件的绝佳选择。