二手 SEMICS Opus III #9276658 待售

SEMICS Opus III是来自SEMICS International Corporation的最先进的PROBER,在电气/热测试方面提供无与伦比的性能。Opus III以双隔离高压/大电流接触模块为特色，确保现代半导体器件的高效测试。此技术还可以防止敏感设备的高压/高电流接触探测可能引起的尖端断裂和过热问题。集成的电动光学显微镜允许进行广泛的半导体缺陷分析，例如通过其5轴运动可以轻松实现的极端特写视图。该光学器件既可用于宏和微观成像，也可用于径向和垂直变焦。另外，该探头包括用于测试各种半导体器件特性的多种原位探针，如电流和电压、电感、电阻、电容等等。SEMICS Opus III包括一个完全计算机化的架构，用于快速高效的板载和测试。该单元通过15英寸彩色触摸屏显示器和计算机控制的探测器进行编程。利用现有的4GHz单簇控制系统，可以同时运行多个板测试序列。这种快速测试多块板的能力可确保测试样品的高吞吐量,而不会影响准确性。除了基本的prober特性外，Opus III还包含了许多其他功能。集成总线分析仪允许同时自动分析多达8个总线,并允许会话记录,以重放统计分析和改进板诊断的各种测试组合。先进的基于高速视觉的探针放置系统及其专有的板件对准技术使探针的自动放置比传统的手动探测方法更快。为了确保测量中尽可能高的准确性，不断对设备进行温度补偿，以减少任何自发误差。此外,SEMICS Opus III允许对多个板进行并排测试,因此可以对相同板进行测量并进行比较以获得更高的准确性。此外，prober的自动补偿特性的创新算法消除了由于外部因素在测量中的任何差异。Opus III是一款功能强大的精密处理器,旨在满足最苛刻的板分析和测试要求。SEMICS Opus III具有广泛的功能和增强的性能功能,非常适合检查和测试最复杂的半导体板和器件。