二手 SEMICS Opus III #9350492 待售

SEMICS Opus III prober是一个全面、通用的半导体晶圆测试系统，旨在执行晶圆和设备prober操作。它支持多种不同类型的晶片测试，包括全晶片级生产、晶片排序、工程晶片、模具排序、元件和可靠性测试。Opus III prober为包括RF、模拟、数字和溷合信号设备在内的各种晶圆和设备级应用提供探测解决方桉。Prober的设计具有独特的用户友好界面,提供测试及其关联参数的全面库。它从一台台式PC上提供了完整的晶圆和设备级编程,节省了测试操作员的时间调试软件并进行了修改。这降低了在测试周期中维护多个设备的复杂性，让操作员专注于测试和分析。SEMICS Opus III prober拥有广泛的测试和测量库,可用于涵盖各种应用程序。这些测试可以检测、识别和报告多达19个参数，包括位置、接头泄漏、隔离泄漏、接头电容、阈值电压和通道长度测量。它还为扫描测试提供了集成的基于视频的模具和模具识别方法。扫描技术让prober可以最大化测试覆盖范围，从而在过程中产生更高的准确性和更好的数据准确性。Opus III prober还配备了超出晶圆测试的一系列功能。它包括一个用于托管自定义软件和硬件插件的开放平台,从而实现更高级别的自定义和可扩展性。Prober还包括用于处理不同晶片尺寸的选项,以及用于加快晶片加载速度的预对准工具。SEMICS Opus III还拥有一系列先进的运动控制系统，可实现更快的测试操作并减少运动伪影，从而提高精度。Opus III prober的其他特性包括基于软件的通过/失败分析、集成泄漏测试以及用于表征设备特性的电阻测试。它还带有一个用于集成到现有测试系统的API（应用程序编程接口）,以及一个灵活的电源升级选项,可提供更深入的报告列。最后,Prober包含一系列高级安全保护功能,如电磁干扰（EMI）保护和数据安全。