二手 SEMICS Opus III #9378092 待售
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SEMICS Opus III是专为高压测试、半导体器件探测和半导体元件设备级验证而设计的prober。其全自动设计针对高通量、低成本和低维护测试进行了优化。Opus III包含质量控制功能,可帮助满足行业标准以进行可靠和准确的测试。SEMICS Opus III由一个测试系统和探头站组成，最多有六个多针探头（MPP）模块探头，用于自动进行大容量测试。MPP模块采用双探针卡设计,最多可同时测试六个不同的针脚。每个引脚都是完全自动化的,并单独校准以精确测试高电流设备。双探针卡设计还有助于最大限度地减少污染并确保统一的测试条件。可以对测试单元进行编程，以支持各种测试序列和条件，满足各种测试要求。它包括一个基于网络的机器控制器、测试仪器、电源以及用于分析设备热影响的热成像模块。它支持范围广泛的设备包和大规模集成电路（LSI）,尺寸可达200 mm。控制器配置有实时操作工具，允许对测试序列进行参数化设计，并对测试进行实时监控。Opus III提供了用于资产级别验证和质量控制的高速测试功能。测试加速功能包括基于矢量的定时（VBT）和用于增强测试性能的单脉冲分析（SPA）。SEMICS Opus III具有对多达12个I/O引脚的自动化测试、100 µs可重复性以及对多个设备的20 ns扫描时间。Opus III提供了一个通用平台，用于探测和测试各种设备。它支持对设备特性的连续监控,是可重复的,旨在保持高产率和准确的测试结果。软件和硬件配置是为快速设置和易于与生产测试系统通信而设计的。其高通量、低成本、低维护能力使得SEMICS Opus III成为半导体器件质量控制和生产测试的理想选择。
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