二手 SEMICS Opus III #9378095 待售
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SEMICS Opus III是为半导体器件的测量和分析而设计的专业探测系统。它为半导体生产中的所有测量和测试任务提供了一个全面、通用的解决方桉。Opus III配备了两个最高分辨率高达45 µm的高性能多通道显微镜成像系统，允许被测设备具备完整的3D成像能力。探头具有可调节的X/Y定位器、可调节的Z级和用于处理小样品的真空卡盘。柔性光学对准和聚焦机构为快速的样品处理和检查提供了最高的精度和准确性。SEMICS Opus III具有广泛的高性能探测模块选择,具有不同的探测和数据采集策略选项。最流行的是热、电、机械探测。热探测模块是测量被测设备温度曲线的有力工具。电气探测模块提供一系列电压和电流测试功能，以检查设备的质量。机械探测模块能够提供用于测量设备电阻和非电阻性能的高精度数据测量。Opus III还具有广泛的分析工具，包括图像处理、热电数据分析和机械数据调查。用户友好的图形软件允许轻松浏览大量菜单和帮助文件。该系统配有开放式体系结构，允许与其他现有软件包和工具集成。此外，系统还可以连接到外部信号源，例如温度源或电压源，以便进行更复杂的测量。SEMICS Opus III的高功能使其成为快速、准确地检查和分析半导体器件的可靠而强大的解决方桉。
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