二手 SEMICS Opus III #9393617 待售

SEMICS Opus III是一种特殊类型的探测过程，受到寻求准确可靠结果者的高度追捧。它是各个组织用来分析样品的晶粒和结构以确定其物理性质的技术。具体来说，Opus III是一种3维电子显微镜辅助探针技术。它采用了专门设计的SEM探针设备和高分辨率CCD摄像机,可映射样品的三维表面。高精度探针由一个多元物镜系统、一个扫描电子显微镜柱以及其他各种成分组成。该单元能够实现3纳米的分辨率，显着提高了复杂分析的分辨率和准确性。在操作中,SEMICS机器首先在三个维度上扫描样本的表面,以捕获物理结构的图像。然后分析这种数字扫描的各种频率和模式，可以洞察指定样本的物理构成。这类分析可用于确定材料性质如弹性、拉伸强度、导热系数、导电系数等物理性质。该工具还提供了一种独特的"X射线样"分析形式，允许研究样品的内部特征，否则可能很难观察到。SEMICS Opus III的独特之处在于它能够探测范围广泛的样品，从金属等导电样品到塑料和聚合物等非导电样品。它提供高分辨率成像,具有精确和准确的成像结果,并提供无法通过任何其他方式收集的样本信息。由于它在三个维度上的扫描能力，它甚至可以用来检测原始样品微观结构的缺陷。此外，结果可以非常详细，提供关于物质样本的物理构成和结构的高度全面的信息。Opus III是一种用途广泛、功能强大的技术,已成功应用于各种行业,以便准确地研究材料和组件。纳米分辨率对探测细腻样品如半导体、纳米材料和其他高精度粒子特别有利。该技术具有广泛的适用性和可靠的准确性，是材料分析中广泛接受的选择。