二手 SEMICS Opus III #9410027 待售

SEMICS Opus III是一种自动化的prober，设计用于测量半导体芯片、集成电路和其他微电子器件等器件的物理和电气参数。Opus III配备了自动对焦相机和光学设备，用于对设备进行目视检查，以及两个用于测试和prober应用的机械臂。机械臂的设计目的是为探测、故障排除和检查设备提供精确和可重新定位的环境。该程序还具有自动设备托盘加载系统和多个测量通道。探测单元基于SEMICS先进的物理性能测量技术（PPMTM），用于测量和分析设备的接触电阻、电容、电感、接触电阻等参数。Prober还支持VXI、GPIB、PCI、FEDBUS和VME等多种类型的测量仪器。整个机器使用集成的计算机软件和显示器进行控制。物理特性是使用Optiflow软件测量的，该软件基于考虑不同设备的个体特性的数学模型。该工具采用高度敏感的探头，设计用于测量物理特性的微小变化，精度高。本软件用于控制测试序列和测量脚本,并为不同类型的探测器和设备定制参数和校准。SEMICS Opus III还配备了多种电气表征仪器，如漏电电流探测器（LCD）、偏置探针和用于资产表征和精确温度控制的仪器。该模型旨在将测量结果与设备模型相结合，生成高效的设备分析。结果分析有助于识别设备异常行为和故障。Opus III集成了与安全数据中心的可靠和安全连接,用户可以访问测试结果并远程管理设备。该系统还具有直观且用户友好的控制面板,用户可以轻松配置和管理设备。SEMICS Opus III提供了一个创新、经济高效的prober解决方桉，帮助半导体行业的客户高效、准确地测试和分析他们的设备。