二手 SEMICS Opus #293685953 待售

SEMICS Opus是一种用于半导体制造的高精度、多传感器、概率的处理器,专为工业环境而设计。该工具将先进的硅片检测技术与最先进的光电、超精确计量和增强的图像分析能力相结合，从而能够制造高质量的半导体器件。该产品为半导体生产检测提供了高精度和可靠性，能够高精度检测和识别电路模式上的缺陷。Opus能够准确识别和测量电路模式的微小差异，从而提供半导体可靠性的详细信息和保证。Prober具有快速识别任何透镜或传感器伪影的能力，并以其模式识别特征拒绝剩余图像，从而最大限度地减少错误识别。它还可以检查样品变形、干蚀刻损坏、线束损坏，甚至局部污染。Prober还具有粒度识别工具。此工具使设备能够准确识别从单个像素大小到几百纳米长的较大特征的缺陷大小。这使得它能够检测、分类和测量包括泥浆裂缝、微桥、针孔和排水缺陷在内的各种重要缺陷。为了获得最高精度，prober设计为使用单色近场光学成像进行非接触式3D测量。这使得prober可以获得高精度的高密度3D测量，从而得到非常准确的结果。SEMICS Opus还配备了先进的光学模块，确保半导体检测过程中的稳定性能和聚焦照明。此模块具有激光对准、温度控制和自动对准程序,可动态优化镜头以获得最大的图像清晰度。该Prober配备了一个集成的Multipyp Multi-Sensor Probing and Acquesture System。该系统允许自动同时获取多个测量参数，如平坦度、相对侧地形、深度和X-Y位移。Opus还具有一个校准模块,可帮助校准和维护设备。此模块允许快速校准,并确保prober始终以峰值效率运行。总体而言，SEIMCS SEMICS Opus是一款可靠且高度精确的prober，旨在最大限度地提高半导体器件的生产效率。它结合了先进的成像与强大的计量学和光电技术，准确识别和测量精确定义的半导体微结构。