二手 SEMICS Opus #9228262 待售

SEMICS Opus是用于半导体器件表征和测量的最先进的载体。它被设计用于表征多种基板上的器件，包括绝缘体上硅（SOI）、硅和砷化​​氙（GaAs）。Opus利用先进的电气探测技术，提供精确的直流和交流参数提取，用于设备的表征和测试。SEMICS Opus提供无与伦比的光学级测量精度，与最流行的校准包完全兼容。精密工具具有独特的能力,能够捕捉电压和电流响应的瞬态或动态变化到亚纳秒,从而实现设备测量行业领先的精确度。Opus提供了一个自动化的电气探测和参数提取设备，消除了手动prober操作的需要。系统使用三个独立可控的轴,这些轴应配置为与使用中的基板相匹配（例如,接触间距、直径等）。探测器安装在联系人持有人上,使用户能够充分利用其探测会话。探头单元还带有一个集成的热控子级，在测试过程中显着降低了热诱导伪影的风险。自动化Prober的设计目的是通过将高通量功能集成到工具中来减少Prober的设置时间。这些功能包括站点到站点的互连性、与设备接触技巧的自动纳米级对齐、自动设备定位和自动信号路由。这些功能允许用户最小化设置时间并最大化工具利用率。SEMICS Opus拥有先进的电气测量机。它允许用户通过广泛的电阻、电容、功率和电抗测量来测量直流和交流测量。这些测量参数非常适合设备参数的表征和测试。坚固的工具还包含高级安全功能,以确保所有实验均符合行业标准。安全功能包括多种工具，以确保保持测量的精度和准确性，包括集成的屏蔽工具、保护资产和故障检测模型。最后,Opus prober提供了一种用于快速可靠的设备表征和测试的自动化工具。该工具利用先进的电气探测技术和高速纳米级对准，为广泛的测量提供了精度和准确性。凭借可靠的安全设备，提供业界领先的可靠性和可用性。