二手 SEMICS Opus3 #9068355 待售

SEMICS Opus3是由SEMICS开发的一个先进的prober平台，使有效的晶圆探测能够测量和分析集成电路（IC）的电气特性。该设备提供高性能和用户友好的操作,以快速识别IC中的缺陷并优化其设计。SEMICS OPUS 3利用了prober技术的最新进展，包括完全计算机化的探测、自动化的模模比较测试和多模扫描功能。它还可以自动定位卡盘,以及将晶片自动加载到探头中。因此，Opus3能够实现IC的快速测量，并区分模具参数和子模具参数。OPUS 3的高精度使用户不仅可以进行暗场和明场成像，快速识别IC的缺陷，还可以检测电气参数的细微变化。该平台利用CCD摄像头以各种图像格式（如SEM和TEM图像）显示IC的表面信息。SEMICS Opus3提供了一个高级控制系统,用户可以在探测操作期间调整IC参数。通过使用参数管理器和探测程序管理器软件，用户能够调整IC条件，达到最高信噪比和最高测试速度。用户还可以参数化探测配方,并使用固定参数或自定义配方立即更新模具参数。此外，平台提供多种测量选项，如晶圆上测试和晶圆映射，使用户可以在比较多个工艺节点的IC的同时获得各种电气测量。该单元的软件还允许用户设置探测模式参数，包括自动重新校准和自动波形测量功能。总体而言,SEMICS OPUS 3是一个高级prober平台,它提供了广泛的功能来快速识别和测试IC。该平台提供多种测量选项、自动探测操作和CCD摄像头支持,以实现高性能缺陷检测。该计算机还提供了高级参数管理器和探测程序管理器,用于可定制且高效的操作。