二手 SIGNATONE CM-170 #9363189 待售

SIGNATONE CM-170 prober是为精确测量集成电路而设计的探测设备。该系统专为双极、MOS、BiCMOS和CMOS等一系列技术而设计,结合了功能齐全的微处理器控制的Prober和接触检查和开尔文探测功能。它提供8GHz的精确电气测量,允许用户访问和测量高性能集成电路结构上的信号。Prober由紧凑、符合人体工程学的底座、传统的卡盘、基于卡的处理器以及最多两个可选的开尔文探针组成。基座包括一个用于晶片或晶片扫描和校准的气动定位单元，一个自动面板交换机，以及一个容纳单个晶片或晶片探测的样品支架。拆卸prober上的卡盘,以便轻松访问组件,并方便外部电缆连接。它还确保了探头操作过程中样品的低热传导。处理器为SIGNATOME CM-170处理器提供智能,并提供对所有组件的交互式控制。它具有多种基于PC的应用程序,用于执行测量任务以及探测和轨迹控制。一个可串行编程的图形界面可以对测量和位置参数进行微调。处理器还配备了自动晶片对准工具,用于正确定位样品。可选的开尔文探针允许用户执行高精度、低噪声的接触测量。这些探头具有用于温度漂移的电子补偿电路和同时吸收力和样品温度读数的集成压力传感器。这允许用户在各种环境中执行一系列测量。SIGNATONE CM-170 prober已设计用于生产和实验室环境。其功能适合于多种应用，如晶圆延迟测试、相对扩散测试、内存测试和功能测试。该资产的集成特性使其成为当今高性能集成电路电气测试的绝佳选择。