二手 SIGNATONE S-301-6 #9359243 待售

SIGNATONE S-301-6 prober是一种高度精确和先进的晶圆探测设备，设计用于高速、精细的音高和可靠的晶圆探测研究、开发和生产。它非常适合测试半导体器件,如MEM、MEMC、SOI和CMOS器件。该系统配有6轴校准单元，可实现自动化、精确的对准、索引、音高测量和音高控制。6轴机由高速机动平移级驱动，允许使用多达十六根可调节探针。探针可用于测量垂直和横向电气和光学参数。该探测器还配备了自动对焦摄像头，该摄像头使用基于LED的光源进行自动晶片对准和自动晶片处理。高分辨率相机和视觉工具可确保精确和可重复的探测。该资产具有一个用户友好的基于消息的界面,让用户为prober上的每个序列提供命令。用户还可以为重复测量创建首选项和配置文件。S-301-6 prober提供精确、可重复的测量和晶片的快速操作。它与各种流行的自动探测和扫描探测机（SPM）完全兼容。它旨在与IEEE信号探测标准（IEEE 1587.1）兼容,并且与许多不同的提示兼容。4合1探测站允许同时使用4个探针，并可支持高达6英寸晶圆大小的探测。探测站利用多个可调探头来实现最佳接触，并采用内置散热换热器。该型号还配备了可调节的UV井板支架，可容纳多达24口井，设计用于标准的UV管芯。此外,集成的晶片卡盘和托盘为自动放置晶片和大型晶片设备测试提供了一个安全的平台。先进而精确的prober可用于测试各种参数如短电阻、栅极泄漏和状态电流、功率泄漏、电阻电容值和阈值电压。该系统还提供了广泛的频率测量，如散射参数和时域反射仪（Time Domain Reflectometry，TDR）测量。SIGNATONE S-301-6 prober已成为测量和测试各种半导体元件的可靠和可靠的工具。综合的一组特性使其成为研发、生产中测试和测量的理想选择。易用性、高精度和可重复性,以及广泛的功能允许对组件进行更快、更精确的测试。