二手 SPEA 4020S2 #293669613 待售

SPEA 4020S2 prober是专门为高精度晶圆测试和分析而设计的高级探测设备。Prober高效可靠的探测技术允许对需要精细探测分辨率的精细设备和接触点进行精确、可重复的测试。Prober具有基于Heidenhain的实时控制器,它能够在三个维度上快速准确地移动,以访问设备针脚并执行接触和电气测试。Prober结合了高度可靠的舞台位置和方向编码器，从而实现了可重复的探测和定位精度。舞台的X、Y和Z轴的最大速度范围从3.68英寸/秒到1.1in/秒。X、Y、Z轴的定单定位可重复性±为25 μ m,这样可以在探测晶片时实现高度精确的晶片对准和定位。4020S2具有先进的视觉识别能力，能够准确识别测试电路细节。它是功能强大的面向过程的操作设备,设计用于在探测过程中执行所有用户命令和指令。该系统带有18英寸。液晶屏显示器触摸屏允许用户实时输入和监视数据。Prober有一个多尺寸的晶片处理单元，允许使用从小样品到高达450mm的大晶片的晶片。它是一种动态可编程存储机器,可存储多达10k的晶圆数据集.SPEA 4020S2拥有高端电气测试仪器,可在0.1µA 25mA范围内以极高的精度促进测试。另一个热分析工具为设备提供受控温度,温度范围为-10°C至70°C。总体而言,4020S2是一个完全、高精度的prober,完全能够执行困难的任务。它极其准确、快速和可重复。它可以在许多应用中使用，其功能强大的设计确保了晶圆的最佳测试和分析。