二手 SPEA 4040 #293670030 待售

SPEA 4040是一种用于探测包括小晶片和超微结构（如MEMS和Nano-electronic结构）的微结构的prober。4040是一款用途广泛、功能准确的prober。它可以处理直径达200毫米的晶片，最大厚度为3mm。Prober可以编程为执行各种测试功能，如电气测量和数据收集。Prober使用先进的软件包操作,该软件包允许自动测试和数据收集。可以定制软件以满足特定的测量和数据收集要求。软件还具有内置的安全功能,可确保prober的操作安全,并防止对测试的微结构造成任何潜在损坏。SPEA 4040配备了先进的高分辨率视觉系统，能够对微观结构进行准确和可重复的测量。视觉系统包括晶圆映射和翘曲、3D测量和成像以及自动对准等几个功能。Prober有4或5个运动轴,具体取决于配置。每个轴由马达驱动,由计算机控制。这样就可以对微结构进行精确和可重复的定位以进行测试。该探头配有一个特殊的探头，使探头难以进入微结构的区域。探针尖端还可以换取多种替代探针，以适应不同的晶圆技术。4040还设计了最大的可靠性和较长的使用寿命。Prober是使用质量组件构建的,旨在满足苛刻的操作要求。它可以编程为运行各种测试同时减少设置和测量时间。Prober还设计用于在整个操作过程中保持准确性。SPEA 4040是为测试微观结构而设计的先进prober。它具有先进的视觉系统、自动化测试和各种探测技术。可靠，设计使用寿命长。4040是测试各种晶圆技术微观结构的理想解决方桉。