二手 SPEA 4040 #293807496 待售

SPEA 4040是为半导体晶圆测试而设计的最先进的prober。4040 prober具有先进的尖端对齐和机器人处理能力，使其成为高端晶圆测试应用的理想选择。该探头提供快速、准确的定位，可重复性高达0.02 ± μ米，是高产探针应用的绝佳选择。Prober有三种型号-标准、高速和多功能-可提供多种特性和功能。标准型号具有完全集成的独立工作站，可用于自动模具装卸，以及批量探测。此外,标准模型还包括一个获得专利的三线测试模块,在批量探测过程中提供了完全的灵活性。高速模式包括双区运行，提供更快的吞吐量和更短的周期时间。该型号还具有高精度定位系统，可重复性高达± 0.002 μ m。同样，多功能模型提供了集成的EGA和自动喷嘴校准系统，从而实现了高效的数据收集。再者，prober可以在手动、半自动和自动模式下操作，提高处理速度和精度。SPEA 4040还支持多种底物和探测技巧，使其具有高度的通用性。它附带了兼容晶片类型和直径的列表，以及兼容的探针和探针卡，使得各种特定的晶片探测应用成为可能。Prober配备了智能传感器,可实现高精度操作,而附加功能（如可调节的偏移和速度控制）可轻松校准和调整。而且，prober带有直观的用户界面，允许用户直接访问和控制探测器的功能。综上所述,4040 prober是一个可靠而高效的prober,它为晶圆测试应用程序提供了通用的特性和功能。凭借其先进的尖端对准和机器人处理，这种保护器确保了快速准确的定位，使其成为高精度探测和数据收集的理想选择。此外，它与各种基材和探测技巧的兼容性，以及直观的用户界面，确保SPEA 4040是任何晶圆测试应用的绝佳选择。