二手 SPEA 4040 #9145863 待售

SPEA 4040是一种用于测量半导体晶片以诊断关键半导体参数和晶体特性的prober。4040使用户能够以高度的精确度和精确度分析晶片的表面粗糙度、地形、整体形状和电气特性。SPEA 4040具有500毫米x 400毫米的工作台,并提供多种功能来测量直径可达300毫米的晶圆。Prober设计用于进行广泛的电气测量，包括电容、电阻、跨导、泄漏、表面电位、电压、钴测试等等。4040的集成软件使获取、可视化、分析和报告结果变得容易。除了先进的表面映射技术外，先进的带状映射技术可以提供有关晶圆表面潜在轮廓的宝贵信息。此外，SPEA 4040具有独特的接触验证系统，可最大限度地减少接触情景，减少晶圆表面的污染物和灰尘。此外，系统可以将从prober获得的结果与各种技术参数相关联，以确保准确、可重复和可靠的测量。4040具有集成的用户界面,使其易于使用,并允许快速有效的测量。此外,Prober还采用可扩展的体系结构进行设计,该体系结构可提高可扩展性,并能够在单个平台中集成多个硬件、软件和数据采集系统。SPEA 4040能够保持温度、压力、湿度等环境条件等关键操作参数，成为高质量半导体测试的理想设备。此外，保护装置的强屏蔽级将尽量减少电磁和其他环境扰动的影响，确保可靠的测量。最后，4040是专为半导体晶圆测试而设计的鲁棒。凭借其先进的功能、广泛的功能和用户友好的界面，SPEA 4040是任何半导体晶圆测试应用的可靠可靠的解决方桉。