二手 SPEA 4040 #9224342 待售

SPEA 4040是一种用于测试各种半导体晶片的电性能和缺陷的prober。这个prober能够进行高速测试，并且拥有高达每小时一万晶圆的吞吐量。由于其独特的弯曲手指探针臂，它还擅长测试小型复杂组件。4040是一个高性能的PROBER,具有先进的运动控制设备,确保所有探头和基板的运动都能准确实现。它还具有四个伺服电机垂直级，每批可处理多达250个真空兼容基板，速度超过每小时一千个晶圆。Prober还具有先进的prober控制器,可实现完全自动化的探测和测试功能,非常适合大容量测试需求。该控制器还具有功能强大的基于模式的系统,允许用户设置测试参数以及每个晶圆的特定测试序列。SPEA 4040 prober有一个健壮的自动化晶片处理程序，可以处理从一百五十毫米到三百毫米的晶片直径。该螺旋桨还配有多层不锈钢盒式磁带支架，最多可同时装卸四个盒式磁带。4040探头的一个关键特点是其自适应终端检测单元，其设计目的是为探头终端在测试表面上提供精确定位。这台机器能够测量试验表面并进行必要的调整，以确保可靠和准确的终端放置。Prober还使用预配置了一系列探测器和适配器的可自定义探针卡制造。这些卡旨在确保安装方便和可靠的测试算法。此外,还可以购买prober和许多其他附件,包括附加的布线和线束,这些附件可以轻松配置并集成到工具中。总之，SPEA 4040是一种能够进行高速测试和精确放置探头终端的高性能探头。凭借其高质量的组件，这款prober是满足大容量测试需求的绝佳选择。