二手 SPEA 4060 #293794210 待售

SPEA 4060是为晶圆选择和测试应用而设计的prober。它被半导体公司广泛用于广泛的晶圆图样检测和探测任务。4060使用一种称为直接接触电探测的技术来精确测量晶圆图样的电特性。这使得prober可以快速准确地测量晶圆图样的电性能，如物理尺寸、电阻、电容、开路和闭路特性。SPEA 4060采用高可靠性组件,内置控制设备和图形用户界面（GUI）,易于操作。它被设计为在测量和低漂移随着时间的推移有最小的很多到很多变化。它由晶圆处理器、光学系统、探测单元、信号调理机和机械工具组成。晶片处理程序将测试晶片从一个阶段移动到另一个阶段,并处理X、Y和Z中的运动。该处理器的光学资产包括一个高功率变焦显微镜,用于沿X轴LED光源进行宏微成像。它还包含一个BGA/CSP精密测量模型，能够测量BGA、芯片比例封装和其他特殊封装。该探头配备了行业标准的高精度探头和配套电子设备，如深金刚石驱动适配器，用于精确测量电气特性。指示器的信号调节设备由计算机控制的放大器、滤波器、开关、比较器和数据采集电路组成。该系统允许prober捕获测试晶片的信号，用于电气特性的测量和分析。螺旋桨的机械单元由精密运动平移机、主动穿梭机和减振器组成。这些帮助prober与测试晶片保持一致的对齐，这有助于提供高度准确和可重复的测量。总体而言，4060是一种先进、可靠、易于使用的检波器，它对晶圆图样的电特性提供了准确和可重复的测量。它被半导体公司广泛用于生产和研究应用。