二手 SPEA 4060 #293823163 待售

SPEA 4060 Prober是一种自动化晶圆prober设备，设计用于半导体行业的大批量生产和过程控制应用。该系统具有高度的灵活性和准确性,能够对各种离散组件和集成电路板进行完整的过程控制。该单元适用于载荷容量为4个半导体晶圆的200 mm以下晶圆尺寸。4060 Prober设计用于支持晶圆工艺背面和/或正面的预粘结、预胶带和后胶带操作。它配备了先进的探测技术，包括MEMS传感器、气动和吸力传感器以及微观模式。还配备了先进的安全功能，包括超行防护、碰撞检测、指令式可编程安全电路等。SPEA 4060 Prober提供灵活的操作和先进的操作参数，包括可调节的探测速度、探测深度、非接触式探测和低压探针。Prober的高级功能允许更精确的探测过程。该机器还具有内置的校准和检测功能，可确保精确测量晶圆上的每个探针位置。4060 Prober以其快速的样品循环时间和较小的探测步长，确保每个晶片在接触压力和表面损伤最小的情况下都能完全探测到。该工具还配备了自动探针交换器，能够在探针类型之间快速、方便地切换。资产支持多种探测样式，允许操作员根据设备类型和应用程序要求自定义探测配置。SPEA 4060 Prober具有模块化双探针模型,可快速安装和卸下,以便于维护和消除集成电路板和探针损坏。它还具有先进的运动控制技术,通过在探针通道和自动定心之间提供紧密间距,最大限度地减少探测过程中的循环时间和稳定性。总体而言,4060 Prober是一种可靠而全面的自动化晶片prober设备,可提供高性能、准确性和灵活性,用于测试各种半导体元件。通过提供可靠的探测结果、高速、高精度、易于操作和先进的安全功能,该系统有助于降低产品测试成本并提高产量利润。