二手 TAKAYA APT 3050 #293596459 待售

TAKAYA APT 3050是为晶圆探测应用和其他IC封装测试及调试活动而设计的最先进的prober。在当今先进半导体器件的测试和评价中，该技术能够提供高精度和重复性。TAKAYA APT-3050的探针室设有20,000个微型探针，能够对多个设备进行并行测试，同时对不同模式的单个设备进行测试。该机构基于安全、准确、平稳的接触传递空气轴承设计，即使在非常低的压力下也能提供可靠的操作。Prober另外还配备了约25个大功率LED,为精确的图像采集提供了卓越的照明效果。APT 3050建立在8-Axis XYZ系统上,并附带标准9-Axis选项,用于完整的设备表征和评估。该探针非常适合各种应用，如手动晶片探针和碳酸化、局部探针和模具级测试、高速晶片分选和高密度探针。其他功能包括多站点测试、自动处理、多站点表征以及实时数据采集和分析。Prober还配备了高速自动对焦、精确的低力气球接触探测、无污染操作等多种自动化功能，以及库支持和高精度运动控制。用户界面被设计成符合直观的，有一个具有专用功能键以及数据输入字段的人体工程学控制器。为了为应用程序提供最佳支持，APT-3050还包括一套用于在线分析、成像和统计数据处理的软件工具。TAKAYA APT 3050是半导体行业广泛应用的理想解决方桉。其精确且可重复的测试功能既经济又灵活,使客户能够经济高效地表征和评估微米级别的设备。Prober为任何研究、开发或生产测试要求提供卓越的精度、长期可靠性和强大的性能。