二手 TAKAYA APT 8400CE #148721 待售

TAKAYA APT 8400CE是一种先进的晶圆探测技术。它对于复杂离散设备、3D IC和MEMS的自动化生产测试具有卓越的准确性和高吞吐量。TAKAYA APT-8400 CE提供了广泛的探测选项,包括垂直探测、水平探测、力感测探测和压力控制探测。APT 8400CE旨在为设备探测提供高分辨率映像。它配备了高分辨率光学系统和快速成像技术，能够实现高吞吐量和测量精度。具有双激光器的并行成像系统也有助于减少测量误差。此prober的设计目的是提供最大的效率和精度,同时降低测试的复杂性和成本。其创新的并行信号检测技术允许同时探测同一地区的多个测试点，因此测试时间大大减少。Prober还具有高速异步信号采集和精确信号分析仪,能够在复杂设备上进行精确测试。APT-8400 CE有一个高速头部定位系统，可以在测试点之间快速移动，可重复性精度为0.5 μ m。它具有多个真空泵，以确保对试验区和快速移动的磁头进行一致的真空控制。自动倾斜选项无需手动调整探头。TAKAYA APT 8400CE还包括创新的FIBERMUX™ Texturing选项,该选项允许在单个测量会话的多个点处进行晶圆纹理测量,以分析设备性能。可选的PAM-5000软件模块支持多种语言,有助于改进设备探测。TAKAYA APT-8400 CE具有集成的分析工具和多用途功能,是一个功能强大的Prober解决方桉,可提供可靠、精确且经济高效的生产测试。它为高级探测和测试提供了一个完整的解决方桉,允许用户优化其生产测试操作。