二手 TAKAYA APT 8400CJ #9350684 待售

TAKAYA APT 8400CJ prober是一种用于中小型半导体器件电气测试和探测的设备。它是一个全自动、多探针、微观定位系统，采用高度精确、集成的显微镜系统来精确处理小型探针。TAKAYA APT 8400 CJ使用了XYZ以及旋转和倾斜阶段的组合，在测试和探测过程中具有充分的灵活性。该系统具有极好的可重复性,能够以惊人的精度沿着设备的多个侧面进行探测。定位系统的精确度允许在薄至0.10mm、长至12mm的硅片上探测接触点。通过调整Z轴和旋转轴来考虑基板参数的变化。为了最大限度地提高精度和效率,APT 8400CJ可以一致地捕获零件或设备的参数。各种单独操作的探头用于多探头测试，每个探头都可以有可单独调节的功率输出。此外,探针可以快速更改,从而减少了测试过程。在一个强大的电机驱动之上，prober提供精密的电子控制操作，可以最大限度地提高稳定性和效率。APT 8400 CJ配备独立的测量元件和先进的微处理，为测试精度提供了稳健的参数设置。测量估计探针和设备样品之间的接触，而数据分析，包括电流和电压定时的计算，确保了最佳测试结果。总而言之，TAKAYA APT 8400CJ prober是中小型半导体器件探测的理想多合一解决方桉。它具有全自动化、集成显微镜系统、先进的电机驱动器和独立的测量组件,可确保对细小零件进行准确、高效的探测。