二手 TEKTRONIX TCPA 300 #9170317 待售

TEKTRONIX TCPA 300是为高级晶圆探测应用和集成电路测试而设计的高性能prober。它提供模块化设计,允许用户自定义其prober配置,以实现最高的性能和效率。该设备采用集成的计算机控制、高分辨率晶圆对准系统和提高探头精度的精密测试头。TCPA 300为从小几何探测到大规模微电子封装测试的应用提供了卓越的性能和操作灵活性。Prober具有模块化、可配置的设计,允许用户根据其特定测试需求定制其功能。TEKTRONIX TCPA 300的主要部件包括运动控制单元、精密测试头、红外视觉机和高扭矩晶圆定位执行器。运动控制工具由一个数字伺服放大器和一个多轴伺服控制器组成，为用户提供精确控制prober的运动和设置。还支持多轴扫描和探测,允许用户从一个指定位置快速移动到另一个指定位置。Prober的精密测试头的最小探头螺距为0.22mm,确保了小几何结构的精度。头部还支持各种不同的探测技巧，允许用户自定义其设置以满足其特定的探测需求。资产还包括一个高扭矩晶片定位执行器，确保晶片在测试头下方的定位一致。TCPA 300采用集成的全彩色红外视觉模型,可增强设备的整体性能。IR视觉系统允许用户准确识别探测位置，定义不同测试模式之间的边界，以及检测跳过和未对准的站点以改进测试结果。总的来说，TEKTRONIX TCPA 300是一个强大的PROB，为先进的晶圆探测应用和集成电路测试提供了卓越的性能和精度。它具有模块化设计、高分辨率晶片对准单元和最高探针精度的精密测试头。该机还包括高扭矩晶圆定位执行器、数字伺服放大器和控制器，以及全彩色红外视觉工具，用于提高性能和增强测试结果。