二手 TEL / TOKYO ELECTRON 19S #9281922 待售

TEL/TOKYO ELECTRON 19S是为半导体集成电路（ICs）和片上设备（SoCs）等纳米级器件的表征和测试而设计的prober。该prober具有图像捕获系统,用于对微小型和纳米级设备进行高分辨率成像,用于故障分析、逆向工程、产量改进、可靠性分析以及其他需要对设备进行详细目视检查的应用。TEL 19S将先进的电气探测系统与精密矢量网络分析仪（VNA）和一系列可编程测试插座结合在一起,以便为各种设备类型和大小提供电气特性。该程序还包括用于射频（RF）测试、光学器件表征和电路定时分析的附加光电测试系统。TOKYO ELECTRON 19 S最多支持8个测试定位器，允许多个同时的模具探测操作。Prober的图像捕获单元还提供了许多高级成像功能,如自动2D和3D测量、缩放/平移第一失败分析、感兴趣的区域（ROI）成像、区域扫描和缝合、薄膜沉积厚度测量以及X射线模式比较。通过将光学和电气测试功能相结合,19S可以定量分析被测设备的性能,并提供可靠的数据以及对其状况和结构的详细可视化表示。TOKYO ELECTRON 19S被设计成在广泛的温度范围内运作，包括极低的温度，以及在多种环境条件下运作。它的最先进的温度测量机允许同时监测多达六个温度区，确保在所有测试系统中进行准确和可重复的温度测量。此外,Prober还设计用于轻松设置和程序开发,使客户能够以最小的努力快速创建和部署测试程序。总体而言，TEL/TOKYO ELECTRON 19 S是一个高度先进的推进器，能够在各种设备上提供全面的电气和光电测试。19 S通过将一系列精密传感器、矢量网络分析和成像系统合并到一个软件包中,为纳米级设备的表征和测试提供了前所未有的准确性和可靠性。