二手 TEL / TOKYO ELECTRON 78S #9260826 待售

TEL / TOKYO ELECTRON 78S
ID: 9260826
晶圆大小: 8"
Prober, 8".
TEL/TOKYO ELECTRON 78S是Probe Card prober,专为两个元件之间的精确电接触而设计。它能够测试存储芯片、逻辑电路、控制电路、显示面板等多种半导体器件的性能。由于其低真空设备和先进的接触技术,Prober提供了高速探测、快速探测周期和长期可靠性。TEL 78S是一种紧凑的Prober,设计为易于用户设置。该系统具有数字I/O板,可通过软件轻松访问,从而方便用户进行设置。该单元包括I/O控制器、光学显微镜、电磁探针和扫描电子显微镜(SEM)。有多种探针,包括基于激光的接触探针,允许用户自定义所使用的测试类型。TOKYO ELECTRON 78 S还配备高速探测机,提供准确可靠的结果。这种探测工具使用数字触发器和数字到模拟转换器来精确测量被测设备中的电活动。该资产还具有高级集成和反馈控制,可用于自定义prober的设置。TEL/TOKYO ELECTRON 78 S包括一个分析模型,用于观察和测量被测装置的电活动。设备能够测量电压、电流、频率、电阻和电容。然后可以使用这些数据来分析设备的性能。分析系统还具有复杂的数据采集控制,可以进行更精确的测量。78 S prober的设计考虑了性能和可靠性。其紧凑的设计使其易于使用和传输,高质量的探针和电磁探针保证了准确快速的探测。先进的接触技术还确保组件之间的可靠电气连接,集成分析单元有助于确保设备的准确性能测试。
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