二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12 #293652211 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12 Prober是一种用于半导体晶圆探测、测量和检验的接触式Prober。它是一种高度通用的试剂，能够处理各种晶圆尺寸，每次测量的样品在1到12个之间。该设备还具有很高的灵活性，允许不同程度的自动化和与不同类型的测试系统集成。Prober的人体工程学设计使它能够被舒适地操纵，整体尺寸相对紧凑。Prober主要由高品位不锈钢构成，具有较高的冲击鲁棒性，使其能够部署在要求最苛刻的晶圆处理环境中。Prober还配备了附着在TEL专有3D驱动器系统上的真空卡盘，即使在高加速度下也能以最小的振动实现准确和可重复的探测。TEL P-12 Prober采用集成、无电缆的设计,与其他探针相比,它简化了安装并简化了设备处理。此外，它还有一个先进的视觉单元，能够检测prober标记、基板边缘和掩模条件，从而在探测中具有更高的精度和准确性。该装置还结合了空气轴承和气流技术，即使在具有挑战性的制造环境中也能实现高度的可重复性和准确性。它设计用于手动和自动探针,以及非接触式和接触式探针提示。此外，防腐剂还设计用于适应各种温度、泄漏、真空和温度控制系统，使其能够应付广泛的测试和检查需求。它的控制机器是可扩展的，在配置prober时允许更大的灵活性和选项。其精度和可靠性使其成为半导体晶片探测、测量和检验的市场领先者。其用户友好的设计使操作员能够快速轻松地配置和使用prober以满足其特定的应用程序要求。TOKYO ELECTRON P-12 Prober凭借其高精度和性能，无疑是任何晶圆处理环境的绝佳选择。