二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9089358 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Prober是为各领域研发而设计的高度先进的多功能材料测量设备。该系统能够高精度地测量薄膜样品，并提供一系列独特的特征来协助研究。TEL P12XL配备了一个特殊的高分辨率成像单元，以确保测量的精度和重复性。成像机由探头、微形传感器和光谱仪组成，用于检测薄膜样品的不同物理性质，如微量元素组成和折射率。TOKYO ELECTRON P 12 XL还利用多级目标跟踪机制，使其探头保持精确定位在微型预定义测量区域内。探头设计用于广泛的薄膜测量，如表面粗糙度评估、表面平均粗糙度测量、X射线厚度测量、X射线反射率测量、X射线衍射分析、表面分析。除了其高精度成像工具外，TEL/TOKYO ELECTRON P12XL还配备了强大的多级应力检测传感器。这一资产可以检测材料表面加工或应力引起的任何应变，并在薄膜样品中以高达10-8微米的光电滞后精度进行测量。采用多种表面材料制备应力检测传感器，广泛应用于表面应力操作。TOKYO ELECTRON P-12XL也使用特别设计的材料探针，在测量中提供高稳定性和重复性。该探针能够检测样品的任何变形，如表面膨胀或收缩，或样品在感兴趣区域的部分变形。P-12XL还具有高精度温度控制器,以确保在宽广的温度范围内准确测量结果。所有这些功能结合在一起,提供了P-12 XL的高性能测量,并具有出色的数据重复性。TEL P 12 XL能够处理长期和短期测量以及高温事件。然后使用直观的图形用户界面处理使用此模型进行的所有测量,从而为用户提供易于理解的数据解释。该设备还包括一个标准材料库，使用户能够轻松地将样本中的相关数据与接受的基准数据进行比较。总之，TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL Prober是为研发而设计的高端材料测量系统。该单元能够精确测量薄膜样品，并提供多种特点，如高分辨率成像机、多级目标跟踪机构、应力检测传感器和高精度温度控制器。直观的图形用户界面和标准材料库确保用户能够快速轻松地将其数据与公认的基准进行比较。