二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9131741 待售
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ID: 9131741
晶圆大小: 12"
优质的: 2001
Prober, 12”
Gold
Hot
GP-IB Cable
Head plate
Gas-spring on headplate
Standard monitor
WAPP-20K with brush
Card holder
Manipulator
Wafer table
Printer
OCR: KLA P8-Zoom
SACC: 200/300
Air and vacuum: Fitting
Monitor type: Standard
Single phase
Boards:
147-CON
VIP3A
GP-iB
TVB9003-1316
PST-STD
PST-OPT
Loader driver
SIO
Frequency:
Standard: 50/60 Hz
Metric: 50/60 Hz
200 V
2001 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Prober是一种高度先进的自动化测试设备,用于IC和设备制造过程。它用于测量和验证IC的电气特性,从而能够对各种设备类型进行准确诊断。TEL P12XL Prober具有先进的技术集成和流程自动化功能,使其能够运行多个流程并同时测量多个示例。该系统的核心是一个先进的机械臂和照相机装置,能够准确地拾取、定位和放置IC芯片。该探头配备了三种不同的测量扇形探针卡,每一种都有自己的能力和应用。W12-PRCF探头专为半导体应用而设计,每小时可测量30,000个探头。W12-PCST探头设计用于TFT控制器和晶体管应用,每小时可测量30,000个探头。W12-T0T8探头在TFT和OLED应用程序中提供高级性能,每秒最多可测量8个探头。TOKYO ELECTRON P 12 XL Prober还加入了一种超高速并行信号分析仪,每毫秒可测量1000个信号,使其能够比以往更少的时间测量和组装设备。为了同时测试多个单元,TEL/TOKYO ELECTRON P12XL有一个并行测量装置驱动程序,允许多个探针和探针同时用于同时测量多个IC芯片,大大提高了工艺效率。P-12XL还具有许多连接选项,包括以太网、Wi-Fi和USB2.0,使其能够与各种其他系统结合使用,使其成为一个通用、可靠和高度先进的prober解决方桉。此外,TEL P 12 XL Prober具有高度可编程性,允许用户轻松控制Prober并自定义其测试过程。该机设计方便维护,便于必要时更换和修理零件。总体而言,TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL Prober是一种功能强大、可靠且高度先进的自动化测试工具,能够对IC进行详细测试,确保准确诊断、提高工艺效率和改进设备制造。
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