二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9220058 待售
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已售出
ID: 9220058
优质的: 2002
Wafer prober
CPU Board: VIP3 (Have updated to VIP3A)
Cleaning unit: WAPP
GPIB
Floppy Disk (FD), 3.5"
Wafer table
Network function
Display: LCD Color touch screen, 10"
Barcode reader
Signal tower
SACC
OCR: Insight 1700
Loader side: Left
Chuck type: Gold
Chuck: 50~150
Loader type: Loader / Left
Buffer table: Front
HDD Type: SSD 8G
Card holder: CHROMA 3380P Docking
Clean table
Option: FDD
Cassette type:
Cassette, 8"
FOSB, 12"
Chuck type:
Hot temperature +150
Golden and Ni, 12"
Does not include:
Hinge
Inker
Chiller
Power supply: 220 V
2002 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL是一种为半导体器件测试而设计的高级螺杆。它结合了高分辨率、高速激光散射仪和稳定且高度可调的探针卡。这种组合使用户能够快速准确地测量半导体器件的电气特性,如接触电阻和热性能。TEL P12XL的激光散射仪使用激光和高放大倍率光学器件的组合来精确测量设备的表面特性。激光散射仪能够测量熔点和接触角,以及折射率和表面粗糙度。光学设备还使TOKYO ELECTRON P 12 XL能够测量设备表面极小的特征,如精细电路痕迹和焊料颠簸。P12XL的集成探针卡设计最大的稳定性和准确性。该卡提供了广泛的可调探头高度和接触力,允许精确和可重复的测量。该卡还具有防滑系统,有助于消除热或机械冲击造成的不准确性。它包括垂直和水平力传感器,以及内置温度监视器,可确保设备测试条件保持不变。P12 XL利用先进的软件接口快速准确地测量设备性能。该软件允许用户快速配置设备测试参数,如接触力、温度和光学放大倍率。软件还提供设备测量的准确反馈,包括绝对接触电阻和偏离期望值。此外,TOKYO ELECTRON P-12 XL配备了强大的单元监听和管理单元。该设备提供有关prober和连接设备状况的实时信息,并使用户能够管理测试和存储结果。这样可以确保结果准确和可重现。TEL P-12XL是一种先进、可靠的半导体器件测试技术.它结合了高分辨率激光散射仪和稳定且高度可调的探针卡,使用户能够快速准确地测量半导体器件的电气特性。TOKYO ELECTRON P-12XL精密的软件界面使用户能够快速轻松地配置设备测试、测量结果以及存储数据以获得可重现的结果。该单位还配备了先进的机器监测和管理单位,确保结果保持准确和一致。
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