二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9254700 待售
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ID: 9254700
优质的: 2004
Wafer prober
XY Probing accuracy: ± 4.0 μm
Z Probing accuracy: ± 5.0 μm
Optical system: ASU/BCU-I
Probing force: 100 kg
2004 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL是为半导体器件测试、检验和评估而设计的高端测试装置。它能够测试各种半导体器件类型,包括晶体管、电阻器和电容器。TEL P12XL包括一个内置的接触探测系统以及一套全面的接触和非接触测量功能。TOKYO ELECTRON P 12 XL能够测量长度低至5微米的半导体器件。它在接触之间的可调间距为0.5至4.5毫米,能够在500 kHz以下测量。TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL采用三点接触设计,以减少灰尘和碎片对测量的影响。TEL/TOKYO ELECTRON P12XL具有带加热卡盘的探针卡、用于电源和数据采集的架子以及用于将电缆和探头布线到样品块头的大型电缆托盘。它易于使用的设计让用户能够快速准确地设置测试配置和控制参数,如探头、头部位置、压力和电压。除了测量半导体器件外,TOKYO ELECTRON P-12XL还能够测试超薄晶片的机械性能,深度分辨率为0.001微米,以0.5微米为增量测量。TEL P-12XL采用光学和电容传感器技术来测量设备厚度和表面地形。TEL P 12 XL还包括一个特殊的端口来连接一个示波器,使用户能够快速评估波形行为。TOKYO ELECTRON P12XL还配备了先进的软件和精密的通信协议,允许简单地集成到制造环境中。它还与大多数外围设备兼容,包括广泛的编译器、模拟器和第三方软件,用于编程、调试和仪器控制。总体而言,P-12 XL对于寻求能同时处理多种测试和评估任务的高精确度和高效螺旋桨的厂商来说是绝佳选择。TEL P-12 XL具有内置的接触探测系统、加热卡盘、卓越的数据采集能力和先进的软件,可帮助提高生产现场的生产率、效率和准确性。
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