二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9254711 待售

ID: 9254711
优质的: 2003
Wafer prober XY Probing accuracy: ±4.0 μm Z Probing accuracy: ±5.0 μm Probing force: 100 kg Optical system: ASU/BCU-I 2003 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Prober广泛应用于半导体分析和测试。它旨在快速准确地为从低端到高端的一系列产品提供质量数据。它最大限度地提供可靠的晶片和模具性能数据。TEL P12XL Prober是用于探测器测试和设备级别测量的自动化系统解决方桉。精密推进器具有先进的运动控制,具有高速、精确的定位和可重复性.12 "x 12"螺杆使模具易于定位到12 "x 12"测试模式区域。一系列产品的快速准确的数据是由prober的精密探测EDM(放电加工)技术保证的。TOKYO ELECTRON P 12 XL Prober提供了包括模具探测和全晶片级探测在内的全方位晶片和模具测试功能。其强大的晶圆级精密prober能够精确检查和探测不同类型的电气设备,如DRAM、SRAM、SRAMC、ROM、DRAM内存卡和车载半导体。TEL/TOKYO ELECTRON P12XL Prober具有易于使用的图形用户界面,具有多种功能。用户友好的设计使编程和测试过程能够快速准确地执行,而显示屏提供了被测试模具或晶片的完整可视化。Prober是完全自动化的,并通过提供详细的统计信息来确保可靠性。质量系统可确保每个测试周期中的数据准确且可重复,而可互换的晶圆测试头可实现复杂的探测配置。P-12 XL Prober还配备了用于测试和模拟的高级分析软件,确保了对模具和晶片进行最准确可靠的测量。对系统硬件和软件的灵活性进行了调整,以便在最短时间内产生最高精度的数据。这会导致任何生产、工艺或设备的质量更高且无故障率。
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