二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #293752228 待售

ID: 293752228
优质的: 2007
Wafer prober 2007 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLm是为高精度电气测量而设计的先进螺杆。这种功能强大且用途广泛的设备能够通过各种位置过渡,非常适合探测和测试各种电子元件。TEL P12XLM利用了两个独立的探针,即触点剪切探针和非接触矢量探针。Touch Lap Shear Prober可直接从元件表面进行测量,并以高精度接触尖端构造,以提高精度。Non-Contact Vector Prober允许测试微小组件而不会造成任何损坏或磨损。此外,该系统设计为提供一系列测试频率选项,使其能够测量各种参数,包括电容、电阻、电感、频率、噪声、IF/NF和时域光谱。TOKYO ELECTRON P 12 XLM利用大型数据处理计算机、高分辨率液晶触摸面板和USB端口提高测试精度。利用大型数据处理计算机,该设备能够以高达25kHz的分辨率捕获波形,并可提供详细的实时波形显示。该计算机计算机配置了晶圆注册数据库,以确保准确的数据捕获和传输。TOKYO ELECTRON P-12XLm配备了先进的运动控制,包括两个精密线性执行器和两个动态扫描级。线性执行器能够提供高精度和可重复性的测量位置和角度,而动态扫描阶段则能够自动扫描更大的视野。此外,该工具旨在最大限度地减少振动和空气阻力,从而保持更高的精度和可重复性。P-12XLm是测试和测量各种电子元件(从微观零件到大型晶圆阵列)的理想载体,可以提供高精度精度的广泛测量。通过优化的设计,资产能够轻松地从一个位置过渡到另一个位置,从而使测试过程易于自动化。
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