二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9161697 待售
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ID: 9161697
优质的: 2006
Prober
Loader unit: 1
Lcd panel: With touch panel: Yes
Signal pole: Red/Yellow/Green
Front & rear cover: Red/Blue/Yellow / green: White
Inspection tray : Yes
Certificate: No
Configuration settings
System disk: HDD
Mo disk: (Data storage): No
Fd disk: (Data storage): Yes
Probe_card holder
Loader: Front one load_ port (indicator is brooks type)
Needle alignment: Yes
Needle height setting
Wafer id reading (ocr): No
Needle inspection: Yes
Multi-pass probing: Yes
Gp-ib I/f : Yes
Ethernet I/f
Automatic card change: Yes
Pc unit: 200V/20A
Hinge: Yes
Chuck temperature: There is possibility of the low temperature trouble
Chiller: Yes
Printer Option: No
Size (D x W x H)
Weight(kg): 2427
CPU : VIP3
2006 vintage.
TEL P-12XL是一种用于精密晶圆级分析的处理器。它是一个多参数系统，可以测量硅晶片或半导体器件的电气和物理性质。该P-12XL提供最先进的晶圆探测功能,非常适合生产和研发应用。其创新设计以高速扫描机构、获得专利的晶圆级光电源、优化的电源耦合以及高精度的运动控制系统为特色。该P-12XL配备了一系列输入和输出，以提供全面的功能，包括自动晶圆对准、多个原位电气分析通道和集成的计算机控制。自动晶片对准可确保晶片接触准确且均匀,而多个原位电气分析通道则可通过单个探头进行多次测量。此外，集成的计算机控制能力使得从可编程距离管理所有数据分析任务成为可能。该P-12XL还能够全面控制环境，支持高压和/或高温条件下的作业。它配备了车载氧气、温度和/或湿度传感器，允许在不断变化的环境中对设备特性进行详细分析。这样可以确保无论测试环境如何,利用P-12XL进行的测量都保持精确和可靠。该P-12XL不仅可以提供单晶圆值测量,还可以提供精确的工艺参数,如模具工作、I-V曲线测量、环路增益或微波特性。此外，P-12XL的模块化设计使其能够支持广泛的应用。通过将其他仪器整合到模块化系统中，可以用于复杂的晶圆级分析过程。此外,在数据分析和可视化方面,P-12XL非常先进。它支持外部数据采集系统的连接，实现晶圆测试结果的实时捕获。此外,它的专用数据可视化软件允许用户快速准确地分析来自多个测量的数据并评估设备性能。通过利用P-12XL提供的各种功能,工程师可以从晶圆级测量中获得最高的精度和可靠性。
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