二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9193671 待售

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm
ID: 9193671
Probers Chuck top size: 12" Chuck top material: Gold coating Chuck temperature range: Hot (50°C - 150°C) Docking tester: ADVANTEST Tester Hardware interface tester: ZIF Main CPU: VIP3A Cassette loader: Single port, left type Probe card changer Manipulator hinge No OCR No cleaning unit No wafer ID reading option Tester l/F: GPIB.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLm是为高级半导体工艺测试而开发的一款prober。这一高性能工具为各种应用方桉提供了可靠的探测。该设备采用机械驱动探头,设计在测试过程中达到均匀可重复的接触力。该系统还具有抑制振动的机制,即使在嘈杂的环境中也能确保高精度的检测结果。Prober具有先进的晶片处理能力,能够高速探测封装零件、晶片和测试零件。它采用独特的高分辨率光学定位单元进行设计,能够以2 μ m的分辨率快速精确地对准和测量。该探头还具有加热级,为半导体测试提供热稳定性。该方法非常适合过程表征和质量控制应用。Prober具有自动化的操作和装卸功能,具有矩形装载区、双载波晶片支撑和锁载门。这台机器能够测量0.1 μ m到1000 μ m,同时保持高吞吐量。它使用单一显微镜进行明场和暗场成像。该装置具有热调节功能,允许温度变化从20℃到150℃.它还具有可编程控制界面,允许用户配置和运行测试。其他高级功能包括自动采样器兼容性、高级错误检测能力和用户友好的工具管理软件。总体而言,TEL P12XLM结合了高精度机械化探测、减振、加热级、自动化操作和热调节功能,使其成为高级半导体工艺测试和表征的理想选择。
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