二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9265132 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLm是一种半导体物理测量探测器，设计用于精确探测、映射、基于映射的探测和芯片电气分析。它是一种可靠且高度精确的工具，设计用于探测、测试和评估半导体材料。TEL P12XLM具有双光束探头级,最大芯片尺寸为300 mm x 300 mm。该设备能够达到高达30微米的模具和设备映射分辨率，以及10微米的电气测量分辨率。Prober配有两个探头读卡器，X/Y 3轴对准精度为+/-0.5微米，Z0.1微米，具有自动探头高度控制系统，保证一致的挤压力管理，适用于不同的应用。Prober还有一个扫描成像单元，为用户提供模具配置概况，以及一个自动对准单元，使其能够检测相对于成像模具的探针位置，并在芯片上测量多个模具时进行模模缝合。TOKYO ELECTRON P 12 XLM用途广泛，可以容纳多种探针，从接触式和开尔文夹式探针到90度角探针。它还支持各种探针技术，包括、射频、热成像、电容/电导、光学和照相机探针。该机器能够在单个模具上进行多通道电气测量,以及使用蜂鸣/无蜂鸣采样方法进行高通量测量。Prober配有机械臂，允许自动晶圆运输和位置调整。当晶圆固定到位时，机械臂也可以自动插入探针卡。综上所述，TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLM是一种顶级的半导体物理测量装置，提供广泛的功能。它具有双光束探头级和精确的对准工具，可以进行精确的探测和测试。它配备了扫描成像单元和用于晶圆传输的机器人臂，并支持多通道电气测量。Prober能够达到高达30微米的分辨率，是一种可靠且高度精确的半导体探测工具。