二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn/n+ #9261693 待售

TEL P-12XLn/n+是一个通用的prober，为用户提供高性能的晶圆测试解决方桉。该工具能够测试广泛的先进晶圆结构和技术，包括BiCMOS、CMOS、GaAs、SiGe和高k介电材料。P-12XLn/n+提供快速的测试覆盖范围,具有可靠性、准确性和改进的晶圆吞吐量。P-12XLn/n+prober配备了高分辨率、四维晶片对准设备，允许在测试过程中对晶片进行精确对准。这种对准系统在X和Y轴上都能够+/-25微米。此外,prober可以在Z轴上测量高达1.5度的晶片水平,从而实现晶片的高精度对齐。这种先进的对齐装置大大减少了晶圆测试时间，最终提高了吞吐量。P-12XLn/n+还配备了专利的低灵敏度晶圆操控机，允许对被测装置的机械应力较小。此晶片处理工具旨在确保晶片在整个测试过程中保持正确对齐。此外,完全集成的自动对焦资产有助于确保设备测试的一致性。P-12XLn/n+ prober还具有高级CMU-1000系列控制模型。该设备提供了强大且用户友好的编程功能,使测试工程师能够使用自己的脚本快速轻松地对系统进行编程。此外,该单元允许测试各种设备,从非常简单的结构到复杂的3 D IC。P-12XLn/n+还提供了强大的软件包,可提供广泛的诊断功能。这包括用于晶圆测量、对准校正、自动探针卡表征和晶圆分析的各种实用程序。此外,用户友好的图形用户界面可提供更轻松的数据分析和报告。总体而言，TOKYO ELECTRON P-12XLn/n+ prober为用户提供了高性能的晶圆测试解决方桉。其先进的对齐机、低灵敏度晶片处理工具、自动聚焦资产和强大的控制模型，都有助于对各种晶片结构和技术的精简测试。强大的软件包进一步提高了测试过程的准确性和一致性，最终提高了晶圆吞吐量和可靠性。