二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #293733140 待售
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ID: 293733140
晶圆大小: 12"
优质的: 2005
Prober, 12"
Process: Wafer Test
Front Opening Unified Pod (FOUP) loader
2005 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn是一种为半导体产业提供先进Prober技术的prober。该装置旨在满足半导体测试和探针应用的高性能要求。它配备了多探头系统和先进的过程控制能力,允许对高密度、高速、超低功率的IC进行测试。TEL P 12 XLN负载容量为11600g,总移动范围为129mm,为高级测试和高密度IC探测提供了理想的解决方桉。TOKYO ELECTRON P-12 XLN具有独特的高速参数化prober控制器,允许设备在0.001秒内探测IC设备。还包括一个光学多路复用器,以支持以前所未有的20MHz速度测试高速设备。该设备还提供了高级自动化过程控制(APC)功能,使测试工程师能够通过逐个探针精确控制探针的探针条件来实现高产率。此外,该设备还集成了多种高端物料处理功能,以实现最高的效率和准确性。TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLN具有业界领先的功耗和表征能力,能够在各种不同的电压电平上工作。它还支持背面离子铣削,允许测试工程师执行预检查过程,而不必移除精细的设备组件。此外,该设备还支持一个自动化的高精度相移补偿系统,用于准确的偏斜检测和表征。TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLN能够使用广泛的封装执行,包括BGA、QFP、PLCC和TSOP。凭借其全面的连接选项,它与各种不同的测试探测器和其他设备兼容。该设备还配备了直观的图形用户界面,允许用户轻松配置和控制设备。此外,prober的5轴运动功能允许进行最高程度的硬件定制。总之,P 12 XLN是一款功能强大、高度先进的prober,旨在满足半导体测试和探测市场的严谨需求。通过利用其先进的过程控制、高速参数化能力、物料处理能力和电源效率,设备能够提供前所未有的精度和性能级别,这是高级测试和IC探测所必需的。
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