二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #293809334 待售

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn
ID: 293809334
晶圆大小: 12"
Prober, 12" Chuck type: Hot.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn是TEL Limited制造的一种半导体prober,专为半导体测试和探测应用而设计。该prober配有精密定位装置,能够在微米范围内进行精确探测,具有次埃级可重复性精度。此外,该prober还包括一个最先进的CCD成像单元,用于以高精度捕获微小结构的高分辨率图像。TEL P 12 XLN使用真空室实现了高温低温的工艺密封,有助于减少脱气,最大限度地减少被测装置的污染。此Prober还提供了高精度和高速度来处理即使是最高级的流程步骤。在± 5%的相对湿度下,它可以实现10%至95%的湿度控制,并设计用于降低被测设备的应力。Prober配备了先进的测量系统,能够精确测量晶体平面台阶和一纳米范围内的晶圆弓。该设备可利用12轴高频扫描技术分析探针点,从而实现弯曲轨迹探针移动,从而提高测量精度和重复性。此外,它还配备了碰撞检测系统,通过在接触时自动停止针头的运动来防止对探针的损坏。TOKYO ELECTRON P-12 XLN能够使用探针卡适配器作为被测装置与被测装置之间的接口,使得在小型基板上测量装置更加容易。总体而言,这种探头的设计使半导体测试和探测更加准确和容易。它具有先进的测量能力和坚固的结构,非常适合要求最苛刻的半导体测试和探测应用。
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