二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9090918 待售
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ID: 9090918
优质的: 2004
Prober
CPU Type: VIP3A
Single cassette / wide loader type
Nickel hot and cold chuck top, 12"
Temperature controller
WAPP
SACC
Input power: AC 200 V
Temperature accuracy:
± 0.5°C (+Temperature)
± 1.0°C (-Temperature)
Temperature resolution: 0.1°C
Technology: Heater / cooler air type
Chuck:
Temperature up / down: -40ºC ⇔ +150ºC
Chiller:
Temp setting (0ºC - 20ºC)
Stand by: Case by chuck temp +35ºC upper
Dew point meter:
Reading: -80ºC to +20ºC
Purge air:
(2) Solenoids: On / Off
Wafer testing solution: -40ºC - +150ºC
Options:
Chiller: CT-50A Air cooling system (-40º ~ 150º)
Air input: 25 SCFM at 80 ~ 125 PSI
Operating range: -40°C ~ 200°C
Temperature stability: ± 0.1°C
AC 220 V / 60 Hz / 20 A
Interface: RS-232C, IEEE-488
2004 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn+Prober是一款功能齐全的Prober，专为进行先进的半导体晶圆测试和检验而设计。它是一种多用途工具，可用于各种半导体晶片的测试和检验，从晶片成像到硅模具的3D成像。它具有高性能的彩色和自动对焦视觉系统，大视野，提供精确的成像分辨率，快速的检查扫描，精确的自动对焦操作。该探头还具有多点快速力激光（FFL）系统，能够对晶圆结构和元件进行快速、精确的3D探测。TEL P12XLN+还支持广泛的晶圆测试和分析软件套件库，以及一系列热测量工具。TOKYO ELECTRON P 12 XLN+是探测具有嵌入式晶体管、电感、金属触点等结构的晶片的理想选择。测试仪可以检测和测量裂纹、短裤、颗粒污染、底层缺陷等缺陷。它还能够精确测量小间隙大小，如层间间隙大小、透硅（TSV）间隙大小和钝化层间隙大小。P 12 XLN+还附带了广泛的计量和分析工具，使用户能够表征其晶圆和组件中的特征和参数。Prober的设计采用了坚固可靠的平台，为各种晶片提供了稳定、可重复、准确的探测环境，从小型芯片到最大12英寸的大型晶片。低噪声水平也保证了光谱成像可以用最小的干扰完成。TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLN+prober是先进的高产晶圆探测任务的理想工具。
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