二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9199892 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn+是一种用于接触和测试探测高密度电子电路的先进载体。精确测量很小元件的电气特性，其低热失真加上高速扫描使其适合与集成电路（IC）芯片配合使用。这个prober占用了多达48个数字输出，还提供了处理300 mm以下不同种类基板的多功能性。TEL P12XLN+prober是为优越的表面和电气探测而设计的定制解决方桉。其非接触探头可变平面对准能力具有四向独立调节滚头，提供了更好的探头精度和更好的芯片间间隙均匀性。此外，这款prober还结合了晶体管和二极管的同轴信号检测设备，提供高精度、重复性和较低的热失真。此外，该系统还包括一个自动对焦环路和一个机械快门，以提高探测效率。TOKYO ELECTRON P 12 XLN+prober提供了一个易于使用的操作面板和内置错误检测单元。它也可与电源控制创建更可靠的测试平坦和稳定的基板温度。该机有可选的弹模工具，使其适合大型集成电路。而prober包括一个多轴加热器模块，精确设置并保持响应表面的温度范围。TEL P 12 XLN+资产支持各种设备的自动化测试。它还提供了多种扫描模式和高级统计过程控制（SPC）功能。SPC功能提供实时数据监控,以提高过程控制和模型可靠性。Prober配备了全面的探针卡诊断软件包,可帮助识别和禁用故障探针,从而提高性能。TOKYO ELECTRON P12XLN+集成了一系列数据捕获和分析实用程序,使工程师能够快速有效地分析测试结果并获得有意义的见解。该设备还支持用于评估测试结果的外部测试和测量工具。对于需要精确电气特性测量的高密度应用而言,此prober非常理想。它具有优异的性能,是集成电路测试和表征的理想解决方桉。