二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9228674 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn+是为了现代半导体技术而设计的一种prober。它配备了最新的技术和用户界面，用于对设备和互连参数进行高效的测量和分析。广泛应用于振幅和统计分析、模具和互连表征、工艺优化和产量改进等领域。TEL P12XLN+配备了12英寸的基板固定卡盘，为用户提供多种定位和测量功能。它配有一个标准的探针臂，能够全方位旋转，并配有多种探针，包括热和微操纵器，以及四重透镜显微镜。它还包括各种图像处理和分析工具。手臂可以移动，并以每分钟600arm的最大速度旋转，并配备压力反馈以精确测量探头力。为方便设备和互连测量，TOKYO ELECTRON P 12 XLN+配备了高性能扫描电子显微镜，使用户能够捕捉到被测设备的高度详细的图像。显微镜配有20英寸长工作距离物镜，消色差和无色冷凝器，光斑尺寸为5nm。它还带有一个可变放大级，用于测量纳米范围内的器件特征。系统强大的数据采集和分析功能使用户能够从设备和互连中获取详细信息。它具有数据记录和绘图功能,可以对样本进行有效的历史跟踪和比较。此外,P 12 XLN+还配备了与分析测试系统以及自动探针的直接接口。TOKYO ELECTRON P-12XLn+除了提供全面的测量和分析能力外，还为用户提供了定制自己的系统和设计定制测量和分析程序的能力。通过灵活的硬件和软件配置选项,用户可以创建满足其确切需求的量身定制的处理器。总体而言,TEL P-12XLn+是一款高度先进的Prober,专为高效的设备和互连特性而设计。它提供了强大的数据采集和分析功能,以及定制系统的可自定义选项,使其成为半导体公司的宝贵工具。