二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9230417 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn+是一款先进的半导体测试探头，专为小切块区域、细间距探针、超细接线/垫探针应用而设计。它提供了精确快速测量模具参数的工具，包括校样读数、高分辨率线垫测量和电气参数读数。这种探针非常适合于各种半导体器件相关的测量，如晶圆级探测和小IC的表征。TEL P12XLN+具有重型钢架,尺寸为1200mm x 700 mm,最大探测高度为500 mm。此螺杆采用大轴X-Y-Z机构设计，可处理直径达300 mm的晶圆尺寸。TOKYO ELECTRON P 12 XLN+配备了两条最大探测速度600mm/s的高速扫描路径，允许快速、精确的垂直探测。其X-Y-Z运动也进行了优化，以便在晶圆的不同部位进行稳健、正确的探测。P-12XLn+还具有内建的模具分选器特性，可以在探测后自动将晶片上的模具分组。此功能旨在优化晶片探测效率,减少模具的手动处理.此外，此prober具有储存多种晶圆和配方的能力，使其成为大容量测试的理想prober。P 12 XLN+的用户界面非常直观，使得设置实验和数据收集变得容易。这个prober支持多个软件应用程序，允许用户根据自己的需求定制每个功能。此prober的自动启动功能允许一键自动探测。总之，TOKYO ELECTRON P12XLN+是为通用晶圆探测和专用小型器件测试而设计的先进prober。它采用重型钢架、两条高速扫描路径和模具分选功能设计，具有最大的柔韧性和准确性。此外，它直观的用户界面和自动启动功能使得实验和数据收集变得毫不费力。