二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn+ #9230418 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn+是半导体工业中用于电气和光学测试的一种载体。此Prober设计为用于探测的全自动解决方桉（FAS）,可实现更高效的吞吐量和更高的产量。它配备了自动化电气测试系统（ATES），并使用光学焦点分析（OFA）和视觉与对准（VA）的组合，对半导体晶片进行精确的视觉检查。TEL P12XLN+的ATES系统自动探测和访问半导体晶片的电性能，并允许用户根据提供的参数进行精确设置。此设置确保晶片根据制造商的规格和市场的生产要求进行测试。TOKYO ELECTRON P 12 XLN+提供的FAS减少了半导体工业中使用的其他探针所需的设置时间和训练时间。P-12XLn+使用的OFA和VA允许对半导体晶片进行更精确的目视检查。OFA系统能够快速准确地识别晶片上的缺陷，帮助用户区分晶片上的缺陷和正常特征。此功能允许用户识别需要解决的潜在问题,以确保产品成功。VA使用高分辨率光学显微镜来测量缺陷的位置和大小。这有助于用户在潜在缺陷成为晶圆生产过程中的问题之前识别它们。P 12 XLN+为用户提供了卓越的用户体验。它被设计为易于使用，允许用户通过按下一个按钮快速、方便地访问晶圆功能。用户友好的界面提供了一系列易于理解和自定义的设置和参数。TEL P-12XLn+提供的综合信息有助于确保晶圆根据所需的生产参数进行测试。TEL P 12 XLN+是半导体行业中最先进的探针之一，能够提供可靠准确的结果。其FAS和ATES系统使其成为快速测试产品和准确评估晶圆的理想选择。它强大、易于使用的用户界面以及卓越的视觉检查功能,使其成为高效测试新项目的理想选择。