二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9236129 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn Prober是一种先进的晶圆检测工具，被半导体制造商用来测量、检验和评估硅片及其化学性质。该prober实现了多轴定位技术，可用于精确测量分辨率范围为0.01 x至0.003mm的晶圆圆度。此外,此工具能够同时测量晶圆的多个非接触点的深度、大小和形状。它还有一个可调节的晶圆开槽设备，可以用来对半导体的化学膜特性进行各种分析和评估。TEL P 12 XLN利用激光干涉测量系统（LIS）进行在线厚度测量。这个单元由一个激光光源、一组光学器件、一个扫描镜头和一个照片传感器组成。激光对准晶片表面，产生被照片传感器检测到的干涉图样，允许精确和可重复的测量。这个prober配有一个机器人自动化功能，允许晶片被精确地放置在这个工具的腔室中，确保放置晶片的动作每次都被精确地执行。TOKYO ELECTRON P-12 XLN具有可重复的精度和精确度，能够在生产后提供可靠的生产效果。为了提高精度，TOKYO ELECTRON P 12 XLN具有高精度、大干涉测量级，移动范围在1mm至4mm之间。这样可以对不同厚度进行高度精确的测量,同时最大程度地减少倾斜和摆动。TOKYO ELECTRON P-12XLn的灵活性和可靠性在业界备受推崇。它适用于各种晶片类型，能够测量复杂的薄膜。它还拥有一台监测水位、温度和压力水平的机器，确保为质量控制目的提供一致的读数。为确保持续的用户友好操作,TEL P-12XLn是一个用户友好的工具,具有方便、直观的图形用户界面（GUI）和基于触摸屏的控制面板。它还具有许多安全功能,可减少事故和停机时间。TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XLN Prober是一款功能强大、用途广泛的工具，通过其先进的多轴定位技术、机器人自动化、大型干涉测量阶段提供高精度的结果。它具有易于使用的图形用户界面、可靠的数据读数和安全的操作,是半导体生产的有效而宝贵的工具。