二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLn #9276346 待售

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ID: 9276346
晶圆大小: 12"
Wafer prober, 12" 4156C Tester through switching Matrix B2200A Test head Loader type: Single FOUP open X, Y Probing accuracy: ±1.8μm Optical system: ASU / BCU-Ⅰ Probe card size: Up to 350 mm Wafer cassette: FOUP Constant temperature chuck: 25°C to 150°C (Air cool, +/- 3°C) ATE Low leakage probe card interface Does not include Hard Disk Drive (HDD) No hinge.
TEL或TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLn是专为处理高端半导体器件制造而设计的精密处理器。在高分辨率晶圆探测环境中,此Prober可提供精确的结果和优异的性能。该探头具有12英寸水平级、高分辨率探头和高速容量。精密螺旋桨采用超精密运动,能够精确定位和探测设备上的所有针脚。其先进的三轴运动系统可实现精确的探测和接触对准。可变的高分辨率探头可用于测试高分辨率的大面积设备。此外,它还具有可调的保持压力调整,从1公斤到10公斤,严格控制探头对装置表面的压力,以及提供可重复结果的力传感系统。TOKYO ELECTRON PROBER也具有晶圆探测的高速能力,测试速度高达每秒50次评估。其出色的隔振性能保证了探头的稳定性,在温度和环境变化下实现了精确的接触评估。Prober还具有紧凑的设计,8至12英寸的大晶圆尺寸容量,以及2µm的最小移动尺度。椅子被分成由独立电动机驱动的多个轴,可以达到高性能螺杆所需的整个运动范围。TEL P 12 XLN具有高精度和高性能,非常适合探测各种生产环境中的任何高端半导体器件。它是满足先进技术需求的最佳晶圆探测解决方桉之一。
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