二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #155265 待售

TEL / TOKYO ELECTRON P-8
ID: 155265
Prober, parts machine.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一种用于测量半导体器件电气特性的高度精确和通用的工具。该处理器具有高性能的读取通道,能够准确测量电气空间并做出快速决策。推进器使用"激光制导"精密级设备操作,确保每次使用都能获得准确的结果。该系统利用一系列激光器将探测器对准目标测试区域,提供最大1 μ m的X-Y分辨率。这种高度的精确度使TEL P8能够精确地测量两个设备的电气特性,它们的大小为8 μ m2或50 mm2。TOKYO ELECTRON P 8设计了一个创新的探针控制单元,为用户提供多种控制功能。这些功能包括可变加速和减速、改变90°±之间的探针角度以及自动调整探针尺寸和接触力。TEL P8还具有软件控制的快速批量I/O测试功能,可显着缩短测试时间。此测试功能允许同时测试多个设备,为大批量生产运行提供快速的结果。此外,prober还有一个集成的图像处理单元,用于晶圆和基板定位的非接触测量和自动化。这台图像处理机允许使用彩色视觉相机、光源和精确运动阶段对测试项目进行简单快速的定心和对准。Prober还配备了多个探针卡的选择,可以定制并适应任何CAD布局。当需要专门的测试方法时,这被证明特别有用。最后,P-8螺栓具有创新的内置气刀冷却工具。此资产将热损坏降至最低,以确保测量一致的电气特性。总之,TOKYO ELECTRON P-8 prober是测量半导体器件电特性的一种高度精确可靠的工具。其高性能读取通道、激光引导阶段对准、可变加速减速特性、软件控制的快速批量I/O测试、集成图像处理模型,使其成为大批量生产运行的理想选择。其多重探针卡和内置气刀冷却设备进一步增加了其吸引力,使其成为任何半导体测试需求的绝佳选择。
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