二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293657595 待售

ID: 293657595
晶圆大小: 8”
优质的: 1997
Automatic wafer prober, 8” 1997 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一种高度尖端的prober,用于探测和测试集成电路和其他电子元件。此prober设计用于精确测量各种电气特性,如电阻、电容、电感等参数。它还可以测量集成电路在不同温度下的参数特性。该探针具有特殊的晶片处理系统,能够进行湿蚀和薄膜沉积在晶片上进行测试。该探头能够对晶片和翻转芯片元件进行接触和非接触测量。它还带有一个真空卡盘系统,使螺旋桨能够精确测量元件的电阻率。TEL P8 prober的先进技术包括高速示波器和多路复用器,使其能够在不同温度下检测和测量电气特性。测试仪还可以检测元件的物理缺陷和其他不规则性。它还可以测量高频特性,使其成为测试IC的理想选择。TOKYO ELECTRON P 8拥有直观的图形使用者介面,让设定和操作都容易。它使用图形编程语言,使用户能够控制环境和prober的操作。该prober还可以连接到允许用户分析从prober收集的数据的计算机界面。TEL/TOKYO ELECTRON P8具有广泛的探测功能可以提供,如ESD保护探测、电压稳定、电流放大、瞬态、信号跟踪和线性测试。它也可用于阻抗测量和高频探测。TEL P-8是一款功能强大的prober,可以对集成电路和其他组件进行各种参数测试和探测操作,精度很高。它配备了直观的图形用户界面、先进的技术和多路复用器,使其成为集成电路行业工程师的绝佳工具。它是一种高度可靠的prober,可为更好的设计和制造过程提供更高的测试精度。
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