二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293661227 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 prober是一种高性能的半导体测试设备，设计用于检测和测量半导体晶片中模具和探针之间的电界面特性。是一种先进的微电子器件企业级分析自动化设备。它由精密的机械和电气部件组成,包括多达8个XYZ级组件、探头、探头刀片以及集成的高压影响模块。TEL P8 prober有一个加载系统，方便准确地处理晶片。为了进行探测，XYZ舞台组件在所有轴线上都采用了线性运动和钢球铅螺钉，以确保舞台的快速穿越。前沿探头采用高精度压电执行器和适于精确对准和接触的探头。还专门设计了与漏电滤波器配对的高压影响模块，以尽量减少杂散电容和静电耦合的影响。TOKYO ELECTRON P8 prober可以同时配置、索引、测量多个点。它具有光学编码器单元的自动舞台校准以及实时插值机，以提高性能和精度。它支持高级数据处理,以实现数据表图形的显示以及将复杂数据导出到其他应用程序。由于具有自动故障检测工具和执行自检的能力,它具有强大可靠的性能,并最大程度地减少了停机时间。TEL P8 prober提供了改进的功能,例如测量之间的细微延迟,以提高其先进的数字延迟资产的准确性和更快的数据处理速度。它还支持广泛的输出参数，包括电流、电压、电阻、电容、阻抗和Q因子。此外,还支持高级功能设置,包括探测温度相关效应的特殊测试和紫外可见（UV-VIS）后测量。综上所述，TOKYO ELECTRON P8 prober是一种高精度仪器，为探测半导体晶片提供了一种更简便准确的方法。它支持对电气接口特性的各种测量，同时确保稳定和精确的测试环境。它具有一系列功能，能够有效地运行复杂的实验和测试场景。